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涂层/镀层测厚原理及影响因素

发表时间:2018-08-14 17:36作者:高建辉

涂层/镀层厚度测量

涂层/镀层测量主要分为三种情况:


第一种:适用导电金属上的非导电层厚度测量,例如:金属表面喷涂油漆等

   其检测原理:主要采用涡流法,涡流测厚是利用涡流的提离效应,提离效应:指变化的电磁场作用在导体附近,导体内产生电涡流。电涡流的大小随着变化电磁场与导体的距离改变而变化,其振幅和相位是导体与探头之间的非导电覆盖层厚度的函数。这就是提离效应。探头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了探头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。


第二种:测量导磁基体上的非导磁覆层厚度,例如:钢上镀锌等

   其测量原理:采用磁感应法,磁感应法也被称为磁性法,利用从探头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小,也就是说测量探头和基体金属之间由于存在覆盖层而引起磁引力的变化。


第三种:导体表面电镀导体,例如:测量电镀层的厚度,例如钢上的锌,镍、镉或铬以及诸如钛上的银或铜等;

   其测量原理:主要采用涡流法,根据电导率的差异进行测量。



影响量准确性的因素:材料本身特性,如:基底、涂/镀层材质、边缘效应,即:边缘、曲率的影响、强电磁干扰、校准试块、仪器的本身性能,采用的校准方式等等。



说明:测量的准确性与仪器本身的性能及校准方式有直接关系。

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